當(dāng)前位置:優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司>>可靠性測試>> 高低溫環(huán)境可靠性測試
高低溫環(huán)境可靠性測試是產(chǎn)品開發(fā)過程中重要的一環(huán)。在現(xiàn)實世界中,產(chǎn)品往往會面臨各種溫度條件,如高溫環(huán)境下的電子設(shè)備、低溫環(huán)境下的汽車零部件等。通過進行高低溫可靠性測試,企業(yè)可以評估產(chǎn)品在這些條件下的性能和可靠性,從而提前發(fā)現(xiàn)潛在問題并采取相應(yīng)措施。
高溫/低溫的影響:
高溫對產(chǎn)品有很多影響,如老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變形等,通常周圍環(huán)境每上升10℃,產(chǎn)品壽命就會減少到四分之一;當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃,產(chǎn)品壽命就會減少一半,產(chǎn)品壽命遵循“10℃規(guī)則”,因而高溫試驗作為常用的試驗,用于元器件和整機的篩選、老化試驗、壽命試驗、加速壽命試驗,同時在失效分析的驗證上起重要作用。
低溫對產(chǎn)品有很多影響,如脆化、結(jié)冰、粘度增大、固化、機械強度的降低及物理性收縮等, 低溫試驗用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性,常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗等。
參考標(biāo)準(zhǔn):
環(huán)境試驗方法第二部分:試驗A:低溫試驗 IEC 60068-2-1:2007
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T2423.1-2008
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4 部分:低溫試驗 GJB 150.4A-2009
環(huán)境試驗方法第二部分:試驗B:高溫試驗 IEC 60068-2-2:2007
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗B:高溫 GB/T2423.2-2008
裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3 部分:高溫試驗 GJB 150.3A-2009
在競爭激烈的市場環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量是企業(yè)贏得客戶信任的關(guān)鍵因素之一。產(chǎn)品通過高低溫環(huán)境可靠性測試等測試,企業(yè)可以提供更可靠和穩(wěn)定的產(chǎn)品,從而增強其在市場上的競爭力。